紅外監測設備在探測目標時信號傳輸和處理過程會接收到一些隨機或不規則的無用信號，通常把這些無用信號稱之為“噪聲”。

降噪前 降噪后

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設備的每個組成部分可能都會引進噪聲，這些噪聲主要包括：背景光子噪聲、熱噪聲、讀出電路噪聲、探測器噪聲和光學系統噪聲，最終表現為降低圖像質量和目標探測能力。

這些噪聲產生的機理各不相同,在不同頻段下對設備性能起主要影響作用的噪聲可能也不一樣，系統性地降低噪聲是實現高性能探測的有效路徑之一。

什么是背景光子噪聲？

紅外探測器的光敏材料通過吸收光子產生光電子,但是送達至探測器表面的背景光子通量具有隨機性，會引起探測器輸出電壓值或者電流值的微量隨機變化，從而影響圖像質量和目標探測能力。背景光子噪聲受探測器光敏材料影響較大，通常在所有噪音中占比較多，決定了紅外探測器性能的極限。

什么是熱噪聲？

熱噪聲是指導體中電荷載流子的隨機熱運動產生的噪聲。這種載流子的運動類似于微粒的布朗運動，隨著溫度的升高，這種熱運動變的更加劇烈，熱噪聲也會隨之變大。總體來看，熱噪聲小于背景光子噪聲。

什么是讀出電路噪聲？

讀出電路噪聲指讀出電路中所用器件的固有噪聲，以及由電路結構和電路工作方式引入的附加噪聲，主要受到電路器件選材、電路設計等的影響。

什么是探測器噪聲？

紅外探測器在工藝制備過程中存在較高的技術難度，芯片像元的尺寸差異、材料的復合摻雜、材料密度的不均勻等問題，都會導致像元的非均勻性，并由此產生一定的噪聲。

什么是光學系統噪聲？

紅外光學鏡頭由于各處材料對紅外輻射吸收和反射的不同，能量損失不同，從而產生能力損失帶來的圖像噪聲。光學系統噪聲主要受紅外光學鏡頭材料和加工工藝水平等的影響。